試料を薄切りにするために使われるのが、ミクロトームと呼ばれる道具です。
たとえば、光学顕微鏡で試料を観察する場合、高い倍率に設定すると被写界深度が浅くなります。
そのため、試料を薄切りにすることで、浅い被写界深度でも観察しやすい範囲に試料を配置できるようにする必要があるのです。
また、透過型電子顕微鏡で観察する場合は、試料を薄切りにして、電子線が透過しやすいようにしなければなりません。
このような場合に、ミクロトームで試料を薄切りにすることが必要なのです。