2016年1月5日 / 最終更新日 : 2016年1月5日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【モフォロジー処理とは?】 濃淡のある画像を、白と黒の2階調に変換する処理を「2値化処理」と呼びます。 ただし、2値化処理の後には画像の境界線に凸凹が生じる、本来は連続しているはずの部分が切断されるなどの不都合が生じます。 このような不都合を解消す […]
2016年1月4日 / 最終更新日 : 2016年1月4日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【グレースケース変換(その2)】 グレースケール変換を行う際、人の眼の特性に合わせて、できるだけ自然に見えるように行う方法があり、それは「NTSC加重平均法」と呼ばれています。 R,G,B要素の値を1つを取り出す方法を使うと、どの要素を取り出すかによって […]
2015年12月25日 / 最終更新日 : 2015年12月25日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【グレースケール変換(その1)】 マイクロスコープで観察し、撮影した画像をグレースケールに変換する場合があり、これは画素のもつ情報量を少なくすることで、その他の処理を迅速に行えるようにするという目的で行われます。 グレースケール変換の1つの方法として、各 […]
2015年12月24日 / 最終更新日 : 2015年12月24日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【画像を見やすくする処理】 マイクロスコープを通して得られた資料の画像は、観察に支障が出ないように様々な処理を施されます。 収縮処理とは、図形の境界部分にある画素の値を、すべて背景成分の画素の値に変換し、図形を縮めるという処理です。 逆に膨張処理は […]
2015年12月21日 / 最終更新日 : 2015年12月21日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【簡易的なスンプ法】 非破壊検査などで、できるだけ正確な観察結果を得たい場合には、金属表面の研磨・エッチングなどをきちんと行わなければなりません。 しかし、そこまで正確な結果が必要ないという場合には、スンプ法をもっと簡単にした方法として、ボン […]
2015年12月18日 / 最終更新日 : 2015年12月18日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【スンプ法が使われる場面】 スンプ法は機械・装置などの金属表面に表れるの異常を観察する場合に向いています。 機械・装置の一部を削ると、その運用に支障をきたす場合がありますが、スンプ法ならばそのリスクを軽減できます(スンプ法でも研磨・エッチングの過程 […]
2015年12月17日 / 最終更新日 : 2015年12月17日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【スンプ法のメリット】 スンプ法を使うことで、検査したい機械・装置、金属材料などを削ったり、切り取ったりすることなく検査を行うことができます。 ただし、研磨・エッチングを行ってプレパラートを作成する場合には、金属表面の数パーセント程度が削り取ら […]
2015年12月16日 / 最終更新日 : 2015年12月16日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【スンプ法の手順】 スンプ法は、昭和10年頃に日本のグンゼ製紙株式会社・鈴木純一氏が考案した方法です。 まずは点検・観察したい面を研磨し、エッチングを行い、その部位をアセチルセルローズ膜などに転写します。 そのアセチルセルローズ膜を光学顕微 […]
2015年12月7日 / 最終更新日 : 2015年12月7日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【ウィスカへの対策は?】 ウィスカの発生を抑えるために、鉛をまぜたメッキが行われてきたという歴史はあるのですが、実はウィスカが発生するメカニズム、そしてそれを抑制する方法というのは、まだ特定されていません。 ウィスカの発生を抑えるために、鉛を使わ […]
2015年12月4日 / 最終更新日 : 2015年12月4日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【ウィスカの観察とマイクロスコープ】 ウィスカ(whisker)は「ひげ」という意味であり、金属メッキ等に発生するウィスカは、針や動物のヒゲのような細い結晶の形をしています。 そのため、マイクロスコープで観察する場合には、高倍率での観察をしなければなりません […]